FISCHERSCOPE X-RAY XAN

Прибор в наличии в Санкт-Петербурге, возможна демонстрация, пробные замеры, тест на вашем производстве.

Цена по запросу.

О практике использования прибора читайте ниже в описании прибора.

Артикул: Категория: Метки: ,
FISCHERSCOPE X-RAY XAN
Сергей
Эксперт по НК
Всё о приборе FISCHERSCOPE X-RAY XAN практика использования, примеры и особенности работы с прибором

FISCHERSCOPE X-RAY XAN подходящее устройство для любого анализаFISCHERSCOPE X-RAY XAN

FISCHERSCOPE X-RAY XAN

Как и серия XUL, XRF-спектрометр FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® идеально подходит для анализа образцов простой формы. Однако большое преимущество серии XAN заключается в их высококачественных полупроводниковых детекторах. А рентгеновская флуоресценция (XRF) позволяет не только измерять толщину покрытий, но и анализировать состав сплавов (например, меди). 

Всего в серию XAN входят 5 настольных XRF-спектрометров, которые охватывают широкий спектр приложений. XAN 215 имеет экономичный детектор PIN. Он идеально подходит для простых задач по толщине покрытия, например цинка на железе или Au / Ni / Cu. Для более сложных применений со сплавами или драгоценными металлами мы рекомендуем наши XRF-устройства с кремниевым дрейфовым детектором (например, XAN 220): благодаря гораздо более высокому разрешению он может надежно различать золото и платину. А когда вам нужно обнаружить следы тяжелых металлов и других опасных веществ, XAN 250 — ваше решение.

Еще больше возможностей благодаря DPP + и SDD большего размера

С XAN 220, XAN 222, XAN 250 и XAN 252 теперь вы можете проводить измерения еще точнее и быстрее. Как и GOLDSCOPE SD 520 и SD 550 , инструменты оснащены новейшим цифровым импульсным процессором DPP +, полностью разработанным компанией Fischer. Используя новый процессор в сочетании с недавно появившимся кремниевым дрейфовым детектором большего размера (эффективная площадь 50 мм²), можно обработать еще больше сигналов образца. Это приводит к отличному разрешению по энергии. Ваше преимущество: сокращение времени измерения до 3 раз или снижение абсолютного стандартного отклонения повторяемости до 45%.

Особенности

  • Универсальные рентгенофлуоресцентные (XRF) спектрометры для анализа металлов и драгоценных металлов, измерения толщины покрытия и проверки RoHS в соответствии с DIN ISO 3497 и ASTM B 568
  • Полупроводниковые детекторы премиум-класса (PIN и SDD) обеспечивают превосходную точность обнаружения и высокое разрешение
  • XAN 250 и 252: для измерения легких элементов, таких как алюминий, кремний или сера 
  • Коллиматор: фиксированный или 4-х сменный, наименьшая точка измерения прибл. 0,3 мм
  • Первичный фильтр: фиксированный или 6-кратный сменный
  • Фиксированная поддержка образца или ручной XY столик
  • Видеокамера для удобного определения лучшего места измерения
  • Высота образца до 17 см 

Области применения

  • Неразрушающий анализ стоматологических сплавов, проба серебра
  • Многослойные покрытия
  • Анализ функциональных покрытий толщиной не менее 10 нм в электронной и полупроводниковой промышленности
  • Анализ следов в защите потребителей, например, проверка на присутствие свинца в игрушках
  • Определение металлических сплавов в соответствии с высочайшими требованиями к точности в ювелирной промышленности и на нефтеперерабатывающих заводах.

Обнаружение очень малых концентраций вредных веществ — ROHS

X-RAY XAN область применения

Обеспечение соответствия RoHS с помощью метода рентгеновской флуоресценции (XRF)

Для производителей и дистрибьюторов многих продуктов очень важно иметь возможность обнаруживать вредные вещества. В различных нормах, таких как RoHS (ограничение содержания опасных веществ), DIN EN 71 (стандарт безопасности игрушек) и CPSIA (Закон о повышении безопасности потребительских товаров), указаны максимально допустимые значения, особенно для тяжелых металлов. 

Например, RoHS ограничивает концентрации свинца (Pb), ртути (Hg), шестивалентного хрома (Cr VI) и соединений брома (PBB, PBDE) до 1000 ppm, в то время как предел для кадмия (Cd) составляет всего 100 ppm.

Рентгеновские флуоресцентные приборы с кремниевыми детекторами дрейфа, такие как FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD, исключительно хорошо подходят для простого, неразрушающего определения этих вредных веществ в широком спектре продуктов.

Пределы обнаружения Pb в различных материалах / компонентах, измеренные с помощью FISCHERSCOPE® X-RAY XDV
-SDD, по сравнению с предельными значениями различных нормативных документов.
ПЛАСТМАССЫ АЛЮМИНИЙ / КЕРАМИКА ЛАТУНЬ СТАЛИ ПРИПОЙ
2 частей на миллион 6 частей на миллион 50 частей на миллион 30 частей на миллион 60 частей на миллион
Оболочка корпуса кабеля, печатные платы Корпус, SMD компоненты Подключите контакты Корпус Точки пайки, сварные образцы
         
Допустимые пределы: RoHS: 1000 частей на миллион    
  DIN EN 71: 90 частей на миллион    
  CPSIA: 100 частей на миллион    

WinFTM, мощное программное обеспечение FISCHER для анализа, включает режим, специально разработанный для анализа RoHS, который обеспечивает автоматическую оценку соблюдения предельных значений.

Таким образом, соответствие требованиям законодательства можно проверить быстро, со средним временем измерения 60-300 секунд.

X-RAY XDV SDD

В таблице 1 показаны пределы обнаружения Pb в различных материалах с использованием метода рентгеновской флуоресценции. Хотя для Pb возможно прямое измерение, для Cr и Br можно определить только общие концентрации, а не точные концентрации вредных соединений. Соответствие устанавливается, когда общая концентрация ниже предельных значений, в противном случае необходимо использовать дополнительные методы анализа. Требуемые пределы обнаружения также могут быть соблюдены для других тяжелых металлов, таких как Cd, Hg, As и Ba.

Содержание серебра в посеребренных или бланшированных сплавах серебра

Для отделки столовое серебро часто покрывают гальваническим покрытием или бланшируют. В процессе нанесения покрытия на сплав серебро / медь наносится покрытие из чистого серебра. Это дает привлекательный белый атласный блеск. Бланширование обеспечивает тот же эффект за счет химического удаления меди из самого верхнего слоя сплава серебро / медь. Результатом обоих методов является шпон с гораздо более высоким содержанием серебра, чем в основе, что затрудняет определение пробы и, следовательно, стоимости серебряных изделий.

Единственный надежный метод правильного определения содержания серебра в посеребренных или бланшированных сплавах серебра и меди — это непосредственное испытание основного материала, например, шлифованием или распиловкой, поскольку неразрушающий стандартный анализ с помощью рентгеновской флуоресценции (XRF) показывает ошибочно высокое содержание серебра из-за повышенных концентраций на поверхности.

Используя приложение для измерения, которое ищет серебряное покрытие поверх сплава серебра и меди, рентгеновские флуоресцентные приборы FISCHER позволяют неразрушающим образом определять как толщину серебряного покрытия, так и тонкость основного материала. Это точно работает с посеребренными предметами, потому что содержание серебра в покрытии одинаковое. Однако при бланшировании содержание серебра постоянно уменьшается по мере увеличения расстояния от поверхности, что значительно затрудняет определение.

FISCHERSCOPE X-RAY XAN и Бланшированное серебро

Бланшированная серебряная монета, показанная на рисунке 1, была изготовлена ​​из сплава серебра 625 пробы (т.е. номинальное содержание серебра 62,5%). Простой анализ материала с использованием XRF покажет содержание серебра 85%, что значительно превышает номинальное содержание серебра.

Содержание серебра в мотентах и X-ray

На рис. 2 показано, как содержание серебра увеличивается в зависимости от близости к поверхности монеты, где концентрация серебра приближается к 100%. Используя FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 220 и приложение, созданное специально для измерения бланшированного серебра, «серебро на серебре / меди», была получена концентрация 61,4%, что очень близко к номинальному содержанию серебра. Чтобы проверить результаты, эта монета была затем разрезана пополам, что позволило проводить прямые измерения в поперечном сечении с помощью прибора XDV-µ с чрезвычайно маленьким размером пятна благодаря фокусирующей оптике.

Использование специализированных приборов FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 220 позволяет определять тонкость основы и толщину покровных слоев как посеребренных, так и бланшированных серебряных изделий — быстро, точно и неразрушающе. Обратитесь к нам для консультации и проверки своих изделий.

FISCHERSCOPE X-RAY XAN и анализ устойчивых к потускнению серебряных сплавов

Анализ серебряных сплавов

Стерлинговое серебро часто используется для изготовления ювелирных и декоративных изделий. Однако одной из распространенных проблем с серебром является окисление поверхности или «потускнение». Чтобы предотвратить или хотя бы уменьшить этот эффект, в серебро добавляют различные легирующие элементы.

Серебро используется в производстве множества декоративных предметов, от ювелирных украшений до аксессуаров и музыкальных инструментов и тонких столовых приборов; его яркий цвет делает этот металл особенно привлекательным для таких применений. Самые популярные сплавы состоят из серебра и меди с типичной миллионной пробой 825, 925 (стерлингов) или даже 935 частей серебра на тысячу по массе. Cu добавляется для улучшения прочности и удобоукладываемости материала.

Хотя серебро является драгоценным металлом, оно имеет сильную тенденцию к окислению на поверхности, обесцвечивая свою яркую глянцевую поверхность на темное, тусклое пятно. Этот эффект, называемый потускнением, также наблюдается в серебре, легированном медью.

FISCHERSCOPE X-RAY XAN и потускневшее серебро

Таким образом, основная часть исследований и разработок была сосредоточена на улучшении устойчивости серебра к потускнению путем добавления небольших количеств различных элементов, включая драгоценные металлы, такие как палладий, и полуметаллы, такие как германий, среди других. Несмотря на то, что такой широкий спектр возможных сплавов затрудняет анализ серебра, рентгеновские флуоресцентные приборы позволяют проводить быстрый, точный и неразрушающий анализ. На рис. 2 показаны сечения спектров различных таких сплавов.

Спектры различных устойчивых к потускнению сплавов серебра

Для таких специальных сплавов не всегда доступны эталонные материалы для калибровки XRF-приборов. Поэтому особенно важно иметь возможность выполнять некалиброванные (не требующие стандарта) измерения, которые приводят к высококачественным и надежным результатам.

Несколько химических составов устойчивых к потускнению сплавов серебра (не указаны концентрации Zn, Fe, Ni; в промилле).
AG CU GA GE PD SN В
932 65,8 0,1 0,2 nd 1.3 0,3
913 59,5 0,4 0,2 nd 3.3 nd
898 37,3 6.0 0,2 31,5 nd nd
928 56,7 0,1 12.1 nd 2.1 0,1
922 39,5 0,1 0,1 nd 0,1 5.0

Спектрометры FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250 оптимально подходят для визуализации даже самых незначительных различий в сплавах серебра. Они позволяют проводить точные измерения чистоты, а также точное определение небольшого количества стойких к потускнению материалов и других компонентов сплава. За дополнительной информацией обращайтесь к нам по телефону.