FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD спектрометр
Универсальный спектрометр высокого класса
XDV-SDD — один из самых мощных рентгенофлуоресцентных анализаторов в производства Fischer. Этот спектрометр оснащен особенно чувствительным кремниевым дрейфовым детектором (SDD). Это позволяет неразрушающим образом измерять даже самые тонкие слои — например, золотые покрытия толщиной около 2 нм на выводных каркасах.
В то же время X-RAY XDV-SDD идеально подходит для неразрушающего анализа материалов. Например, его чувствительность к обнаружению следов свинца в пластике составляет около 2 ppm — на несколько порядков ниже значений, требуемых RoHS или CPSIA.
Чтобы вы могли создать идеальные условия для каждого измерения XRF, XDV-SDD имеет сменные коллиматоры и первичные фильтры, что позволяет работать на научном уровне. Это чрезвычайно прочное устройство, тем не менее, простое в эксплуатации и разработано специально для серийных испытаний в промышленных условиях. Такие функции, как автоматически выдвигающийся столик измерения и живое изображение места измерения, облегчают вашу повседневную работу.
Особенности
- Универсальный XRF-анализатор премиум-класса для автоматизированных измерений очень тонких покрытий (<0,05 мкм) и для анализа тонкодисперсных материалов в диапазоне долей на мил в соответствии с ISO 3497 и ASTM B 568
- Чрезвычайно мощный кремниевый дрейфовый детектор от Fischer с очень большой эффективной площадью (SDD 50 мм²)
- 6 сменных первичных фильтров и 4 сменных коллиматора для оптимизации условий измерения
- Анализ легких элементов, таких как алюминий, кремний и фосфор
- Высота образцов до 14 см
- Высокоточный программируемый столик XY с точностью позиционирования <5 мкм для автоматизированных измерений на небольших конструкциях
- Чрезвычайно прочная конструкция для серийных испытаний с выдающейся долговременной стабильностью
- Сертифицированное полностью защитное устройство
Области применения
- Испытания очень тонких покрытий в электронной и полупроводниковой промышленности, например: слои золота и палладия толщиной менее 50 нм
- Измерение покрытий из твердых материалов в автомобилестроении
- Измерение толщины покрытия в фотоэлектрической промышленности
- Анализ следов опасных веществ, таких как свинец и кадмий, в соответствии с RoHS, WEEE, CPSIA и другими директивами для электроники, упаковки и потребительских товаров
- Анализ и проверка на подлинность золота и других драгоценных металлов, а также их сплавов
- Прямое определение содержания фосфора в функциональных покрытиях NiP
Практика работы и использования FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD
Обнаружение тяжелых металлов в игрушках с помощью рентгеновской флуоресценции
Быстрое и неразрушающее определение концентраций Pb, Hg, Cd и других тяжелых металлов с помощью XRF
Детские игрушки, содержащие следы тяжелых металлов и других опасных веществ — иногда в опасно высоких концентрациях — постоянно вызывают тревогу в новостях. Таким образом, производители игрушек находятся под значительным давлением, чтобы доказать, что их продукты не содержат вредных веществ, чтобы они соответствовали требованиям соответствующих знаков безопасности.
В Европе детские игрушки подпадают под действие директивы по безопасности игрушек и стандарта DIN EN 71, который определяет, например, критерии проверки механических и физических свойств и органических соединений, безопасность электрических игрушек и верхние пределы для определенных тяжелых металлов и другие опасные вещества. Этот стандарт требует, чтобы объект подвергался воздействию соляной кислоты 0,07 моль / л в течение одного или двух часов, имитирующей желудочный сок. Затем растворенный продукт анализируют, обычно с помощью ААС или ICP. Недостатки этого подхода в том, что образец разрушается в процессе, а испытания занимают очень много времени.
| ЭЛЕМЕНТ | ПРЕДЕЛЬНЫЕ ЗНАЧЕНИЯ DIN EN 71 |
ПРЕДЕЛЫ ОБНАРУЖЕНИЯ | ПРИМЕР ИЗМЕРЕНИЯ ABS КОРИЧНЕВЫЙ [СТАНДАРТНОЕ ОТКЛОНЕНИЕ] |
||
|---|---|---|---|---|---|
| ПОМ | ПВХ | ABS синий | |||
| Sb | 60 | 42,6 | 43,2 | 24,9 | 45159 [180] |
| В виде | 25 | 3.9 | 8,7 | 2,7 | 42 [3,8] |
| Ба | 1000 | 138,0 | 87,0 | 60,0 | 2740 [79] |
| CD | 75 | 17,4 | 19,2 | 22,2 | 10 [8.4] |
| Pb | 90 | 8,7 | 12,6 | 6.5 | 4 [4.3] |
| Hg | 60 | 2,4 | 8.1 | 1.5 | -3 [2,6] |
| Se | 500 | 1.5 | 4.2 | 1.2 | 5 [1,7] |
| Cr | 60 | 11,7 | 54,0 | 7,5 | 12134 [281] |
Предельные значения, указанные в DIN EN 71, и пределы обнаружения в ppm для трех различных пластмасс, измеренные с помощью FISCHERSCOPE® XDV®-SDD. Средние значения показаны для коричневого образца ABS (а также стандартные отклонения в скобках). Предельные значения для Sb, As, Ba и Cr явно превышены.
Используемый в качестве метода проверки, XRF предупреждает пользователя, если заданное значение было превышено. Затем можно провести дополнительные влажные химические анализы для перекрестной проверки результата.
Концентрация загрязняющих веществ также может быть измерена очень выборочно, например, на нарисованном глазу пластмассовой фигуры. С помощью XRF можно быстро протестировать всю партию, что позволяет выборочно удалять отдельные загрязненные части, которые, возможно, никогда не были обнаружены в случайных тестах. Еще одно преимущество состоит в том, что концентрацию всех тяжелых металлов можно определять одновременно за один этап измерения.
Напротив, рентгенофлуоресцентный анализ (XRF) представляет собой простой метод быстрого и неразрушающего определения концентраций Pb, Hg, Cd и других тяжелых металлов.
В таблице 1 (выше) показаны пределы обнаружения для различных пластмасс, измеренные с помощью спектрометра XDV-SDD. Таким образом, точные результаты измерения можно легко проверить на соответствие предписанным предельным значениям.
Анализ вредных веществ в текстиле согласно oeko-tex
Быстрый и неразрушающий анализ с помощью FISCHERSCOPE X-RAY XRF
В текстильной промышленности защита потребителей играет важную роль. Этикетки продуктов, Oeko-Tex такие, как Oeko-Tex Standard 100, являются важным знаком качества и часто решающим фактором при покупке. Но для получения этой желательной сертификации производители должны производить все компоненты своей продукции в соответствии с необходимыми критериями и обеспечивать соблюдение установленных пределов.
Приобретая одежду, многие потребители ищут текстиль, проверенный на наличие вредных веществ. Маркировка продукта «Доверие к текстилю — проверено на наличие вредных веществ в соответствии со стандартом Oeko-Tex® Standard 100» — это независимая, унифицированная во всем мире система сертификации текстильных изделий всех видов (дополнительная информация: www.oeko-tex.com).
Чтобы быть сертифицированным в соответствии со стандартом Oeko-Tex® Standard 100, все части изделия должны соответствовать требуемым критериям: например, в одежде, помимо внешней ткани, также швейные нитки, молнии, пуговицы, заклепки и другие элементы и аппликации. Для точного анализа загрязняющих веществ, таких как Pb, Cd, Cu, Cr, Ni и т. Д., Идеально подходит метод неразрушающей рентгеновской флуоресценции (XRF). Используя этот метод, можно обнаружить даже самые маленькие концентрации запрещенных или ограниченных веществ в образце.
Объем и требования тестирования Oeko-Tex® зависят от предполагаемого использования текстильного продукта — чем интенсивнее контакт с кожей, тем более строгие ограничения. Соответственно, существует четыре класса продукции:
I — Одежда и игрушки для младенцев и детей до трех лет
II — Ткани, непосредственно прилегающие к коже
III — Ткани практически без прямого контакта с кожей
IV — Понятия и другие декоративные материалы
| I | II | III | IV | |
|---|---|---|---|---|
| Pb | 90 частей на миллион | 90 частей на миллион | 90 частей на миллион | 90 частей на миллион |
| CD | 50 частей на миллион | 100 частей на миллион | 100 частей на миллион | 100 частей на миллион |
Используя X-RAY XDV-SDD, вы можете легко проверять текстильные изделия и связанные с ними компоненты на наличие мельчайших следов вредных веществ, чтобы проверить соответствие международному стандарту Oeko-Tex® Standard 100. Для получения дополнительной информации свяжитесь с нами.
Анализ микроэлементов у модных украшений и аксессуаров
Обнаружение свинца, кадмия и других аллергенных элементов в модных украшениях с помощью XRF
Поскольку изделия, контактирующие с кожей человека, не должны содержать вредных материалов и аллергенных веществ, разрабатываются новые правила защиты потребителей, чтобы ограничить содержание свинца (Pb), кадмия (Cd) и других токсичных или аллергенных элементов в моде, ювелирные изделиях, деталей часов и аксессуары, а также металлических застежках и украшения на сумках, кошельках или одежде. Эта аналитическая задача требует измерительного оборудования, которое может быстро и легко обнаружить даже самые крошечные количества этих веществ.
Согласно этому новым правилам, не только вредные органические вещества, но и тяжелые металлы, в частности Pb, Cd и Ni, должны быть строго ограничены. В зависимости от отрасли и страны пороговые значения могут быть чрезвычайно низкими, часто в диапазоне 100 ppm.
С точки зрения затрат, металлические детали модных украшений и аксессуаров не всегда изготавливаются из твердых материалов. Базовые формы изготавливаются из легко обрабатываемых недорогих сплавов, на которые затем наносятся декоративные покрытия. И покрытия, и материалы подложки не должны содержать Pb и Cd. Следовательно, анализ таких основных материалов, как латунь и цинковые сплавы, перед формованием и нанесением покрытия является наиболее эффективным с точки зрения времени и затрат.
В отличие от огромных усилий, требуемых при химическом анализе, его легко и просто проверить на наличие загрязняющих веществ с помощью систем рентгеновской флуоресценции (XRF). Их высокая сила обнаружения и низкие пределы обнаружения — незаменимые при любом методе измерения — делают XRF-системы от FISCHER идеальными для таких целей проверки.
| МАТРИЦА | СТД. РАЗРАБОТЧИК PB [ЧАСТЕЙ НА МИЛЛИОН] |
|---|---|
| АБС | 0,5 |
| Al | 2 |
| Cu | 13 |
| Zn | 20 |
| Sn | 0,6 |
| Латунь, актуальная | 10–30 |
| SnBi2, актуально | 5–15 |
| SnBi50 актуальный | 50–100 |
Стандартное отклонение повторных измерений является прямым показателем минимальных концентраций, обнаруживаемых прибором (предел обнаружения ~ 3 x стандартное отклонение). Впечатляющие результаты в таблице 1 показывают, что метод XRF и X-RAY XDV-SDD исключительно хорошо подходят для анализа следов — и, следовательно, для контроля соответствия нормативным целевым значениям.
